以下凱澤金屬是關于真空鍍膜用鈦靶材的全面解析,涵蓋其核心特性、應用場景及與其他金屬靶材的對比:
1、定義
真空鍍膜用鈦靶材是通過物理氣相沉積(PVD)或磁控濺射工藝,在真空環境下將鈦原子沉積到基材表面的高純度金屬材料(純度≥99.9%),用于制備功能性薄膜(如耐磨層、導電層、光學膜等)。
2、性能特點
特性 | 技術指標 | 功能優勢 |
純度 | ≥99.9%(3N級),特殊場景需≥99.999%(5N) | 減少雜質引起的膜層缺陷 |
密度 | ≥4.5 g/cm3(理論密度4.506 g/cm3) | 提高濺射速率和膜層致密性 |
晶粒尺寸 | ≤50 μm(EBM工藝可達≤20 μm) | 確保膜厚均勻性(偏差<±3%) |
導熱率 | 21.9 W/(m·K)(20℃時) | 支持高功率濺射(10-15 kW) |
氧含量 | <500 ppm(光學級要求<100 ppm) | 防止膜層氧化變色 |
3、常用材質牌號
標準體系 | 牌號 | 純度 | 典型應用場景 |
ASTM B348 | Grade 1 | 99.9% | 工具鍍硬質涂層(TiN) |
GB/T 3620.1 | TA1 | 99.9% | 手機蓋板防指紋膜 |
JIS H 4650 | TP340 | 99.8% | 汽車輪轂裝飾鍍層 |
高純級 | Ti-5N | 99.999% | 半導體金屬化層(90 nm節點) |
4、執行標準
標準類型 | 標準編號 | 核心要求 |
國際標準 | ASTM F2884 | 濺射靶材顯微組織(晶粒度≤ASTM 6級) |
中國標準 | GB/T 38976-2020 | 高純鈦靶材雜質元素總量≤0.01% |
行業規范 | SEMI F47-0708 | 半導體用靶材電阻率≤50 μΩ·cm |
5、應用領域
行業 | 具體應用 | 膜層性能要求 |
光學器件 | 增透膜(AR)、反射鏡 | 可見光波段透過率≥99.5% |
半導體 | 阻擋層(Cu/Ti/SiO?堆疊) | 臺階覆蓋率≥95%(0.13μm溝槽) |
工具涂層 | TiN/TiAlN超硬涂層 | 硬度≥2000 HV |
消費電子 | 手機中框PVD鍍膜 | 耐磨性(Taber測試≥5000次) |
6、與其他金屬靶材的區別
參數 | 鈦靶材 | 鎳靶材 | 鋯靶材 | 鉭靶材 | 鈮靶材 |
濺射率 | 0.6 (Ar+ 500eV) | 1.1 | 0.5 | 0.4 | 0.5 |
熔點(℃) | 1668 | 1455 | 1852 | 3017 | 2477 |
電阻率(μΩ·cm) | 42 | 6.9 | 40 | 13.5 | 15.2 |
成本(元/kg) | 800-1500 | 200-400 | 2000-3000 | 5000-8000 | 3000-5000 |
核心應用 | 硬質涂層、導電層 | 磁性薄膜 | 核反應堆防腐層 | 高K介質層 | 超導薄膜 |
7、選購方法
參數匹配:
根據鍍膜設備陰極類型選擇形狀(管靶/板靶/旋轉靶)
膜層電阻要求≤10 Ω/□時需選擇5N級高純靶材
質量驗證:
要求供應商提供 GDMS報告(確保Fe<50 ppm、C<100 ppm)
使用 EBSD檢測 晶粒取向((002)面占比≥60%可提升濺射效率20%)
供應商評估:
優先選擇具有 EBM(電子束熔煉)+熱等靜壓(HIP) 工藝的廠家
核查是否通過 ISO 9001 和 IATF 16949 認證
8、注意事項
儲存管理:
真空包裝需在濕度<40%環境下保存,開封后需在72小時內完成安裝
工藝適配:
使用 中頻電源(40 kHz) 時,靶材厚度應≥6mm以防電弧擊穿
安全防護:
鈦粉塵爆炸下限為45 g/m3,加工區需配置 ATEX防爆系統
報廢標準:
當靶材表面出現 >3mm深度的侵蝕坑時,膜層均勻性會下降30%以上,需及時更換
鈦靶材因其優異的綜合性能(性價比、成膜質量、工藝適應性),占據真空鍍膜靶材市場約35%的份額(2023年數據)。相較于鉭、鈮等稀有金屬靶材,鈦靶的濺射速率快20-50%,且成本僅為1/3-1/5。在精密光學鍍膜中,需選用EBM工藝制備的(002)擇優取向靶材,配合離子束輔助沉積(IBAD),可將膜層表面粗糙度控制在0.5 nm以下,滿足激光陀螺儀等超精密器件的需求。